海南研究院原位芯片可靠性测试中心揭牌成立

2025年10月17日，华东师范大学海南研究院原位芯片可靠性测试中心正式揭牌成立。

原位芯片可靠性测试中心由华东师范大学与三亚崖州湾科技城联合共建，依托原位先进器件研究中心总部的优势科研力量。中心地址位于三亚崖州湾科技城，由华东师范大学吴幸教授担任中心主任。

中心聚焦两大核心研究方向，一方面：面向先进器件失效分析和测试设备的研制。另一方面：采用原位感知技术，针对深海等极端环境需求，重点推进芯片与系统级的可靠性研究。