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原位芯片可靠性测试中心
原位芯片可靠性测试中心由华东师范大学与三亚崖州湾科技城联合共建，依托原位先进器件研究中心总部的优势科研力量。中心地址位于三亚崖州湾科技城，由华东师范大学吴幸教授担任中心主任。中心聚焦两大核心研究方向，一方面：面向先进器件失效分析和测试设备的研制。另一方面：采用原位感知技术，针对深海等极端环境需求，重点推进芯片与系统级的可靠性研究。中心团队成果丰硕，已在 VLSI、JSSC、Nature Communications、Science、Nature Nanotechnology、Advanced Materials、IEEE EDL、IEEE TED 等国际顶级及权威期刊发表论文 200 余篇。先后承接 30 余项国家及省部级重大课题，包括科技部重大研究计划（973 计划）课题、国家自然科学基金委员会重点项目课题、上海市科学技术委员会基础重点项目及重大研究计划项目等。
吴幸
中心负责人、教授
毕恒昌
研究员
吕良剑
副教授
李晓梅
副教授
蔡春华
副研究员
周龙达
副教授
黄嘉禄
博士生
施炜凯
博士生
周靖明
博士生
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